书目信息 |
| 题名： |
电子元器件失效分析与典型案例
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| 作者： | 孙学东 ， 恩云飞 主编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 国防工业出版社 2006 |
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| 页数： | 260页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN601 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 电子元件--dian zi yuan jian--失效分析 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-118-04619-1 | |
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| 电子元器件失效分析与典型案例/孙学东, 恩云飞主编.-北京：国防工业出版社，2006 |
| 260页：彩图；26cm |
| ISBN 7-118-04619-1：CNY150.00 |
| 本书介绍了电子元件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。基础篇描述电子元件失效分析的目的和意义、失效分析程序等。案例篇按照元器件门类分为9章。 |
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正题名：电子元器件失效分析与典型案例
索取号：TN601/1
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| 1 | 0963343 | 209633431 | 样本书库/4110480406/ [索取号:TN601/1] | 在馆 | |
| 2 | 0963344 | 209633440 | 理科库/3111370505/ [索取号:TN601/1] | 在馆 | |
| 3 | 0963345 | 209633459 | 理科库/3111370505/ [索取号:TN601/1] | 在馆 |