书目信息 |
| 题名： |
集成电路系统设计、验证与测试
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| 作者： | luciano Lavagno ， Grant Martin ， Louis Scheffer 著 ；王猛 ， 陈力颖 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2008 |
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| 页数： | 475页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN402 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 集成电路--电路设计 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-021490-4 | |
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| 330 | @a本书内容涵盖了IC设计过程和EDA．系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计．MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计，设计与验证语言，数字仿真，并详细分析了基于声明的验证．DFT．而且专门探讨了ATPG．以及模拟和混合信号测试等，本书还为IC测试提供了方便而全面的参考。 | |
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| 集成电路系统设计、验证与测试/（美）louis scheffer，luciano lavagno，grant martin著/陈力颖，王猛译.-北京：科学出版社，2008 |
| 475页：图；26cm |
| 集成电路EDA技术 |
| ISBN 978-7-03-021490-4：CNY62.00 |
| 本书内容涵盖了IC设计过程和EDA．系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计．MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计，设计与验证语言，数字仿真，并详细分析了基于声明的验证．DFT．而且专门探讨了ATPG．以及模拟和混合信号测试等，本书还为IC测试提供了方便而全面的参考。 |
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| 相关链接 |
正题名：集成电路系统设计、验证与测试
索取号：TN402/4
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| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 0814860 | 208148609 | 样本书库/4110480303/ [索取号:TN402/4] | 在馆 | |
| 2 | 0814861 | 208148618 | 理科库/3111370103/ [索取号:TN402/4] | 在馆 | |
| 3 | 0814862 | 208148627 | 理科库/3111370103/ [索取号:TN402/4] | 在馆 | |
| 4 | 0814863 | 208148636 | 理科库/ [索取号:TN402/4] | 在馆 | |
| 5 | 0814864 | 208148645 | 理科库/3111370103/ [索取号:TN402/4] | 在馆 |