书目信息 |
| 题名： |
半导体器件可靠性与失效分析
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| 作者： | 卢其庆 张安康 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 江苏人民出版社 1982.09 |
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| 页数： | 278 | |
| 开本： | ||
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN306 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | ||
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| ISBN： | ||
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| 半导体器件可靠性与失效分析/卢其庆 张安康.-江苏人民出版社，1982.09 |
| 278：无图表 |
| ISBN ：1.70元 |
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正题名：半导体器件可靠性与失效分析
索取号：TN306/1
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 33460 | 201085048 | 样本书库/4110480204/ [索取号:TN306/1] | 在馆 | |
| 2 | 33461 | 200574066 | 理科库/3111380304/ [索取号:TN306/1] | 在馆 | |
| 3 | 33462 | 200574075 | 理科库/3111380304/ [索取号:TN306/1] | 在馆 | |
| 4 | 33463 | 200574048 | 理科库/3111380304/ [索取号:TN306/1] | 在馆 | |
| 5 | 33464 | 200574057 | 理科库/3111380304/ [索取号:TN306/1] | 在馆 |