书目信息 |
| 书名： | Characterization in compound semiconductor processing = | |
| 作者： | [editors], Gary E. McGuire, Yale E. Strausser. | |
| 分册号： | ||
| 分册名： | 出版地： | 哈尔滨 : |
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| 出版社： | Harbin Institute of Technology Press | |
| 出版时间： | 2014. | |
| 页数： | xvi, 199 p. : | |
| 开本： | 23 cm. | |
| 丛书名： | ||
| 中图分类号： | ||
| 科图分类号： | ||
| 其他分类号： | H31:TN304 | |
| 主题词： | ||
| 电子资源： | ||
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| Characterization in compound semiconductor processing = : 化合物半导体加工中的表征 / / [editors], Gary E. McGuire, Yale E. Strausser.-哈尔滨 : : Harbin Institute of Technology Press, , 2014. |
| xvi, 199 p. : : ill. ; ; 23 cm.- (Materials characterization series = 材料表征原版系列丛书) |
| Includes bibliographical references and index. |
| ISBN 9787560342818 (pbk.) :CNY68.00. |
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正题名：Characterization in compound semiconductor processing
索取号：H31:TN304/2
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| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
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