书目信息 |
| 题名： |
材料现代测试分析方法
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| 作者： | 刘庆锁 主编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 清华大学出版社 2014 |
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| 页数： | 328页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TB302 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 材料--测试方法--分析方法 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-302-37444-2 | |
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| 材料现代测试分析方法/刘庆锁主编.-北京：清华大学出版社，2014 |
| 328页：图；26cm |
| ISBN 978-7-302-37444-2：CNY39.00 |
| 本书分X射线衍射分析、电子显微分析两部分，内容包括：X射线衍射方程与强度、多晶体分析方法及X射线衍射分析仪、物相的定性与定量分析、晶体点阵参数的精确确定、透射电镜结构及其成像原理、电子衍射、图像衬度、衍射运动学分析、高分辨透射电子显微技术、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。 |
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正题名：材料现代测试分析方法
索取号：TB302/5
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| 1 | 1669940 | 216699400 | 样本书库/4110420403/ [索取号:TB302/5] | 在馆 | |
| 2 | 1669941 | 216699419 | 理科库/3110960404/ [索取号:TB302/5] | 在馆 | |
| 3 | 1669942 | 216699428 | 理科库/3110960404/ [索取号:TB302/5] | 在馆 |