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题名:
半导体光谱测试方法与技术
    
 
作者: 张永刚 , 顾溢 , 马英杰 著
分册:  
出版信息: 北京   科学出版社  2016
页数: 331页
开本: 24cm
丛书名: 半导体科学与技术丛书
单 册:
中图分类: O472
科图分类:
主题词: 半导体--光谱分析
电子资源:
ISBN: 978-7-03-047222-9
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    半导体光谱测试方法与技术/张永刚,顾溢,马英杰著.-北京:科学出版社,2016
    331页:图;24cm.-(半导体科学与技术丛书)
    
    
    ISBN 978-7-03-047222-9(精装):CNY128.00
    本书在回顾光谱学和光谱仪器的发展过程后,对半导体中涉及的主要光学过程以及半导体材料、器件及应用研究中需要哪些光谱分析手段和方法作了简要介绍,然后以分光(色散)和傅里叶变换两种方法为基础讨论了光谱分析的基本原理、测试仪器、关键部件、系统构成以及限制因素等,并结合一系列测量实例对吸收谱类、光电谱类和发射谱类测量方法与技术及相关细节进行了详细说明。
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正题名:半导体光谱测试方法与技术     索取号:O472/4         预约/预借

序号 登录号 条形码 馆藏地/架位号 状态 备注
1 1678606   216786066   样本书库/3110581004/ [索取号:O472/4] 在馆    
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