书目信息 |
题名: |
半导体光谱测试方法与技术
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作者: | 张永刚 , 顾溢 , 马英杰 著 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 科学出版社 2016 |
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页数: | 331页 | |
开本: | 24cm | |
丛书名: | 半导体科学与技术丛书 | |
单 册: | ||
中图分类: | O472 | |
科图分类: | ||
主题词: | 半导体--光谱分析 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-03-047222-9 |
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半导体光谱测试方法与技术/张永刚,顾溢,马英杰著.-北京:科学出版社,2016 |
331页:图;24cm.-(半导体科学与技术丛书) |
ISBN 978-7-03-047222-9(精装):CNY128.00 |
本书在回顾光谱学和光谱仪器的发展过程后,对半导体中涉及的主要光学过程以及半导体材料、器件及应用研究中需要哪些光谱分析手段和方法作了简要介绍,然后以分光(色散)和傅里叶变换两种方法为基础讨论了光谱分析的基本原理、测试仪器、关键部件、系统构成以及限制因素等,并结合一系列测量实例对吸收谱类、光电谱类和发射谱类测量方法与技术及相关细节进行了详细说明。 |
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正题名:半导体光谱测试方法与技术
索取号:O472/4
 
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