书目信息 |
| 题名： |
半导体集成电路的可靠性及评价方法
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| 作者： | 章晓文 ， 恩云飞 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2015 |
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| 页数： | 15,394页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 可靠性技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN43 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 半导体集成电路--可靠性--评价法 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-27160-1 | |
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| 半导体集成电路的可靠性及评价方法/章晓文，恩云飞编著.-北京：电子工业出版社，2015 |
| 15,394页：图；24cm.-(可靠性技术丛书) |
| ISBN 978-7-121-27160-1：CNY88.00 |
| 本书共11章，以硅集成电路为中心，重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。 |
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正题名：半导体集成电路的可靠性及评价方法
索取号：TN43/6
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