书目信息 |
| 题名： |
半导体物理与器件实验教程
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| 作者： | 刘诺 编著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 科学出版社 2015 |
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| 页数： | 13,176页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 微电子专业实验教材系列丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | O47-33 ， TN303-33 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 半导体物理--实验--教材 , 半导体器件--实验--教材 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-03-044221-5 | |
| 000 | 01192nam0 22002891 450 | |
| 001 | 1741419486 | |
| 005 | 20170607113032.78 | |
| 010 | @a978-7-03-044221-5@dCNY32.00 | |
| 096 | @aO47@bln | |
| 100 | @a20170606d2015 em y0chiy50 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aa z 000yy | |
| 200 | 1 | @a半导体物理与器件实验教程@9ban dao ti wu li yu qi jian shi yan jiao cheng@f刘诺[等]编著 |
| 210 | @a北京@c科学出版社@d2015 | |
| 215 | @a13,176页@c图@d24cm | |
| 225 | 1 | @a微电子专业实验教材系列丛书@f张怀武主编 |
| 300 | @a“电子信息材料与器件国家级实验教学示范中心”系列规划教材 教育部“卓越工程师教育培养计划”系列规划教材 | |
| 304 | @a编著者还有：任敏、钟志亲、蒋书文、罗小蓉 | |
| 330 | @a本书分上、下两篇。上篇为半导体物理实验部分，包括晶体结构构建、晶体电子结构仿真与分析、单波长椭偏法测试分析薄膜的厚度与折射率等；下篇为微电子器件实验部分，包括二极管直流参数测试、双极型晶体管直流参数测试、MOS场效应晶体管直流参数测试等。 | |
| 606 | 0 | @a半导体物理@x实验@j教材 |
| 606 | 0 | @a半导体器件@x实验@j教材 |
| 690 | @aO47-33@v5 | |
| 690 | @aTN303-33@v5 | |
| 701 | 0 | @a刘诺@9liu nuo@c(女，@f1963~)@4编著 |
| 801 | 0 | @aCN@b郑州日成@c20170606 |
| 905 | @a241250@dO47-33@e1 | |
| 半导体物理与器件实验教程/刘诺[等]编著.-北京：科学出版社，2015 |
| 13,176页：图；24cm.-(微电子专业实验教材系列丛书/张怀武主编) |
| “电子信息材料与器件国家级实验教学示范中心”系列规划教材 教育部“卓越工程师教育培养计划”系列规划教材 |
| ISBN 978-7-03-044221-5：CNY32.00 |
| 本书分上、下两篇。上篇为半导体物理实验部分，包括晶体结构构建、晶体电子结构仿真与分析、单波长椭偏法测试分析薄膜的厚度与折射率等；下篇为微电子器件实验部分，包括二极管直流参数测试、双极型晶体管直流参数测试、MOS场效应晶体管直流参数测试等。 |
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正题名：半导体物理与器件实验教程
索取号：O47-33/1
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