书目信息 |
题名: |
基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究
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作者: | 谢小军 著 | |
分册: | ||
出版信息: | 西安 西安交通大学出版社 2017.07 |
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页数: | 123页 | |
开本: | 24cm | |
丛书名: | “十三五”学术文库系列 | |
单 册: | ||
中图分类: | TM21 | |
科图分类: | ||
主题词: | 绝缘材料--jue yuan cai liao--介电性质--研究 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-5605-9902-1 |
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基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究/谢小军著.-西安:西安交通大学出版社,2017.07 |
123页:图;24cm.-(“十三五”学术文库系列) |
ISBN 978-7-5605-9902-1:CNY42.00 |
本文针对这两种不同的电介质材料, 研究如何准确建立微观结构模型, 并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性, 分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性, 分析相变对于介电特性的影响规律。研究成果对于深入分析电介质材料的介电特性, 进一步预测电介质材料在不同温度下的介电特性, 指导材料的应用具有重要意义。 |
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正题名:基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究
索取号:TM21/2
 
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3 | 1774574 | 217745741 | 理科库/3110840201/ [索取号:TM21/2] | 在馆 |