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题名:
基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究
    
 
作者: 谢小军 著
分册:  
出版信息: 西安   西安交通大学出版社  2017.07
页数: 123页
开本: 24cm
丛书名: “十三五”学术文库系列
单 册:
中图分类: TM21
科图分类:
主题词: 绝缘材料--jue yuan cai liao--介电性质--研究
电子资源:
ISBN: 978-7-5605-9902-1
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    基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究/谢小军著.-西安:西安交通大学出版社,2017.07
    123页:图;24cm.-(“十三五”学术文库系列)
    
    
    ISBN 978-7-5605-9902-1:CNY42.00
    本文针对这两种不同的电介质材料, 研究如何准确建立微观结构模型, 并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性, 分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性, 分析相变对于介电特性的影响规律。研究成果对于深入分析电介质材料的介电特性, 进一步预测电介质材料在不同温度下的介电特性, 指导材料的应用具有重要意义。
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正题名:基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究     索取号:TM21/2         预约/预借

序号 登录号 条形码 馆藏地/架位号 状态 备注
1 1774572   217745723   样本书库/ [索取号:TM21/2] 在馆    
2 1774573   217745732   理科库/ [索取号:TM21/2] 在馆    
3 1774574   217745741   理科库/3110840201/ [索取号:TM21/2] 在馆    
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