书目信息 |
| 题名： |
电子元器件检验技术
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| 作者： | 王晓晗 ， 罗宏伟 编著 | |
| 分册： | 测试部分 | |
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2019 |
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| 页数： | 11,382页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 可靠性技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN6 ， TN606 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 电子元器件--检测 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-33485-6 | |
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| 225 | 1 | @a可靠性技术丛书 |
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| 330 | @a本书从电子元器件检验和生产行业角度出发，围绕电子元器件检验主题，阐述了检验的基本概念、标准体系，重点介绍了集成电路、半导体分立器件等十大类基本电子元器件的参数测试方法，同时将团队多年来实际工作中的工程应用经验进行了概括总结。 | |
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| 电子元器件检验技术.测试部分/王晓晗，罗宏伟编著.-北京：电子工业出版社，2019 |
| 11,382页：图；26cm.-(可靠性技术丛书) |
| ISBN 978-7-121-33485-6：CNY98.00 |
| 本书从电子元器件检验和生产行业角度出发，围绕电子元器件检验主题，阐述了检验的基本概念、标准体系，重点介绍了集成电路、半导体分立器件等十大类基本电子元器件的参数测试方法，同时将团队多年来实际工作中的工程应用经验进行了概括总结。 |
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正题名：电子元器件检验技术
索取号：TN606/13:1
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| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1754814 | 217548143 | 样本书库/4110480501/ [索取号:TN606/13:1] | 在馆 | |
| 2 | 1754815 | 217548152 | 理科库/ [索取号:TN606/13:1] | 在馆 | |
| 3 | 1754816 | 217548161 | 理科库/ [索取号:TN606/13:1] | 在馆 |