书目信息 |
| 题名： |
数字集成电路功耗与测试综合优化
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| 作者： | 孙强 著 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 清华大学出版社 2016 |
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| 页数： | 208页 | |
| 开本： | 23cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN431.2 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 数字集成电路--研究 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-302-45560-8 | |
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| 数字集成电路功耗与测试综合优化/孙强著.-北京：清华大学出版社，2016 |
| 208页；23cm |
| ISBN 978-7-302-45560-8：CNY46.00 |
| 本书运用高层次综合与设计技术，对数字集成电路的功耗与测试综合优化等课题进行深入研究，介绍和提出了一些新的表示模型、设计方法和算法，推动了数字集成电路可测性、低功耗及其相互协调等问题的解决。 |
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正题名：数字集成电路功耗与测试综合优化
索取号：TN431.2/22
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1814247 | 218142472 | 样本书库/ [索取号:TN431.2/22] | 在馆 | |
| 2 | 1814248 | 218142481 | 理科库/ [索取号:TN431.2/22] | 在馆 | |
| 3 | 1814249 | 218142490 | 理科库/ [索取号:TN431.2/22] | 在馆 |