书目信息 |
| 题名： |
现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
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| 作者： | Ibe 著 ；毕津顺 ， 马瑶 ， 王天琦 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2019 |
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| 页数： | 14,210页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 国防电子信息技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN4 ， TN103 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 集成电路--全球环境--辐射效应 , 电子系统--全球环境--辐射效应 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-35115-0 | |
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| 305 | @a由John Wiley & Sons, Ltd.授权出版 | |
| 330 | @a本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。 | |
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| 现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应=Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems/(日)Eishi H. Ibe著/毕津顺，马瑶，王天琦译.-北京：电子工业出版社，2019 |
| 14,210页：图；26cm.-(国防电子信息技术丛书.集成电路辐射效应与加固技术) |
| ISBN 978-7-121-35115-0：CNY79.00 |
| 本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。 |
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| 相关链接 |
正题名：现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
索取号：TN4/22
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1820910 | 218209105 | 样本书库/ [索取号:TN4/22] | 在馆 | |
| 2 | 1820911 | 218209114 | 理科库/3111390403/ [索取号:TN4/22] | 在馆 | |
| 3 | 1820912 | 218209123 | 理科库/3111390403/ [索取号:TN4/22] | 在馆 |