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题名:
现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
    
 
作者: Ibe 著 ;毕津顺 , 马瑶 , 王天琦 译
分册:  
出版信息: 北京   电子工业出版社  2019
页数: 14,210页
开本: 26cm
丛书名: 国防电子信息技术丛书
单 册:
中图分类: TN4 , TN103
科图分类:
主题词: 集成电路--全球环境--辐射效应 , 电子系统--全球环境--辐射效应
电子资源:
ISBN: 978-7-121-35115-0
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305    @a由John Wiley & Sons, Ltd.授权出版
330    @a本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响,涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射,包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子,从物理角度建模,以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。
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    现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应=Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems/(日)Eishi H. Ibe著/毕津顺,马瑶,王天琦译.-北京:电子工业出版社,2019
    14,210页:图;26cm.-(国防电子信息技术丛书.集成电路辐射效应与加固技术)
    
    
    ISBN 978-7-121-35115-0:CNY79.00
    本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响,涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射,包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子,从物理角度建模,以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。
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正题名:现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应     索取号:TN4/22         预约/预借

序号 登录号 条形码 馆藏地/架位号 状态 备注
1 1820910   218209105   样本书库/ [索取号:TN4/22] 在馆    
2 1820911   218209114   理科库/3111390403/ [索取号:TN4/22] 在馆    
3 1820912   218209123   理科库/3111390403/ [索取号:TN4/22] 在馆    
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