书目信息 |
题名: |
现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
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作者: | Ibe 著 ;毕津顺 , 马瑶 , 王天琦 译 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 电子工业出版社 2019 |
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页数: | 14,210页 | |
开本: | 26cm | |
丛书名: | 国防电子信息技术丛书 | |
单 册: | ||
中图分类: | TN4 , TN103 | |
科图分类: | ||
主题词: | 集成电路--全球环境--辐射效应 , 电子系统--全球环境--辐射效应 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-121-35115-0 |
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330 | @a本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响,涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射,包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子,从物理角度建模,以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。 | |
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现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应=Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems/(日)Eishi H. Ibe著/毕津顺,马瑶,王天琦译.-北京:电子工业出版社,2019 |
14,210页:图;26cm.-(国防电子信息技术丛书.集成电路辐射效应与加固技术) |
ISBN 978-7-121-35115-0:CNY79.00 |
本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响,涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射,包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子,从物理角度建模,以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。 |
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相关链接 |
正题名:现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
索取号:TN4/22
 
预约/预借
序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
1 | 1820910 | 218209105 | 样本书库/ [索取号:TN4/22] | 在馆 | |
2 | 1820911 | 218209114 | 理科库/3111390403/ [索取号:TN4/22] | 在馆 | |
3 | 1820912 | 218209123 | 理科库/3111390403/ [索取号:TN4/22] | 在馆 |