书目信息 |
| 题名： |
智能电能表元器件检测技术
|
|
| 作者： | 杜蜀薇 主编 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 中国电力出版社 2018 |
|
| 页数： | 184页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | ||
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TM933.49 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 智能电度表--元器件--检测 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-5198-1812-8 | |
| 000 | 01217nam0 2200229 450 | |
| 001 | 1963476146 | |
| 005 | 20190927173843.65 | |
| 010 | @a978-7-5198-1812-8@dCNY42.00 | |
| 100 | @a20190128d2018 em y0chiy50 ea | |
| 101 | 0 | @achi |
| 102 | @aCN@b110000 | |
| 105 | @aak z 000yy | |
| 200 | 1 | @a智能电能表元器件检测技术@9zhi neng dian neng biao yuan qi jian jian ce ji shu@f杜蜀薇主编 |
| 210 | @a北京@c中国电力出版社@d2018 | |
| 215 | @a184页@c图@d26cm | |
| 330 | @a本书共分为五章，第一章概述介绍元器件的现状及分立器件的作用；第二章阻性元件主要介绍普通电阻器和压敏电阻器，重点介绍普通电阻器的温度系数、压敏电阻器的冲击稳定性和耐受力试验；第三章容性元件主要介绍铝电解电容器和片式电容器，重点介绍铝电解电容器的低温试验；第四章半导体器件主要介绍瞬变二极管和光电耦合器，重点介绍二极管的电流冲击试验和光电耦合器的时间特性试验；第五章晶体谐振器重点介绍晶体谐振器的频率温度特性试验。 | |
| 333 | @a本书适合元器件生产、设计和可靠性分析等相关人员，电能表、采集终端、检测仪表等设备的研发、设计、分析及元器件选型人员；初学电路设计的人员；分立器件的检测人员 | |
| 606 | 0 | @a智能电度表@x元器件@x检测 |
| 690 | @aTM933.49@v5 | |
| 701 | 0 | @a杜蜀薇@9du shu wei@4主编 |
| 801 | 0 | @aCN@b人天书店@c20190128 |
| 905 | @a241250@dTM933.49@e1 | |
| 智能电能表元器件检测技术/杜蜀薇主编.-北京：中国电力出版社，2018 |
| 184页：图；26cm |
| 使用对象：本书适合元器件生产、设计和可靠性分析等相关人员，电能表、采集终端、检测仪表等设备的研发、设计、分析及元器件选型人员；初学电路设计的人员；分立器件的检测人员 |
| ISBN 978-7-5198-1812-8：CNY42.00 |
| 本书共分为五章，第一章概述介绍元器件的现状及分立器件的作用；第二章阻性元件主要介绍普通电阻器和压敏电阻器，重点介绍普通电阻器的温度系数、压敏电阻器的冲击稳定性和耐受力试验；第三章容性元件主要介绍铝电解电容器和片式电容器，重点介绍铝电解电容器的低温试验；第四章半导体器件主要介绍瞬变二极管和光电耦合器，重点介绍二极管的电流冲击试验和光电耦合器的时间特性试验；第五章晶体谐振器重点介绍晶体谐振器的频率温度特性试验。 |
| ● |
| 相关链接 |
正题名：智能电能表元器件检测技术
索取号：TM933.49/1
预约/预借
| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1831602 | 218316025 | 样本书库/4110470401/ [索取号:TM933.49/1] | 在馆 | |
| 2 | 1831603 | 218316034 | 理科库/3110810403/ [索取号:TM933.49/1] | 在馆 | |
| 3 | 1831604 | 218316043 | 理科库/3110810403/ [索取号:TM933.49/1] | 在馆 |