书目信息 |
| 题名： |
电子元器件检验技术
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| 作者： | 王晓晗 ， 罗宏伟 编著 | |
| 分册： | 试验部分 | |
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2019 |
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| 页数： | 11,369页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 可靠性技术丛书 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN6 ， TN606 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 电子元器件--检测 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-121-33484-9 | |
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| 200 | 1 | @a电子元器件检验技术@9dian zi yuan qi jian jian yan ji shu@b专著@i试验部分@f王晓晗，罗宏伟编著 |
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| 330 | @a本书共五章，内容包括：寿命试验技术、环境试验技术、空间环境试验技术、物理试验技术、DPA技术及结构分析技术。 | |
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| 电子元器件检验技术.试验部分/王晓晗，罗宏伟编著.-北京：电子工业出版社，2019 |
| 11,369页：图；26cm.-(可靠性技术丛书) |
| ISBN 978-7-121-33484-9：CNY98.00 |
| 本书共五章，内容包括：寿命试验技术、环境试验技术、空间环境试验技术、物理试验技术、DPA技术及结构分析技术。 |
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正题名：电子元器件检验技术
索取号：TN606/13:2
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| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1852619 | 218526192 | 样本书库/ [索取号:TN606/13:2] | 在馆 | |
| 2 | 1852620 | 218526209 | 理科库/3111370505/ [索取号:TN606/13:2] | 在馆 | |
| 3 | 1852621 | 218526218 | 理科库/3111370505/ [索取号:TN606/13:2] | 在馆 |