书目信息 |
题名: |
先进集成电路电磁兼容测试与建模
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作者: | 博耶 , 西卡尔 著 ;吴建飞 译 | |
分册: | ||
出版信息: | 北京 国防工业出版社 2022 |
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页数: | 16,314页 | |
开本: | 26cm | |
丛书名: | ||
单 册: | ||
中图分类: | TN402 | |
科图分类: | ||
主题词: | 集成电路--电磁兼容性--系统建模 , 集成电路--电磁兼容性--测试 | |
电子资源: | ||
ISBN: | 978-7-118-12607-5 |
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330 | @a本书内容涵盖了学习如何在发射、抗扰度和信号完整性问题方面对电路及其周围环境(PCB)进行建模的基本概念,并结合IC-EMC仿真软件的实际案例来阐述理论概念及原理。 | |
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先进集成电路电磁兼容测试与建模/(法)亚历山大·博耶(Alexandre Boyer),(法)艾·西加(Etienne Sicard)著/吴建飞[等]译.-北京:国防工业出版社,2022 |
16,314页:图,照片;26cm |
装备科技译著出版基金 |
ISBN 978-7-118-12607-5(精装):CNY128.00 |
本书内容涵盖了学习如何在发射、抗扰度和信号完整性问题方面对电路及其周围环境(PCB)进行建模的基本概念,并结合IC-EMC仿真软件的实际案例来阐述理论概念及原理。 |
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相关链接 |
正题名:先进集成电路电磁兼容测试与建模
索取号:TN402/19
 
预约/预借
序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
1 | 1975970 | 219759704 | 样本书库/ [索取号:TN402/19] | 在馆 | |
2 | 1975971 | 219759713 | 理科库/ [索取号:TN402/19] | 在馆 | |
3 | 1975972 | 219759722 | 理科库/ [索取号:TN402/19] | 在馆 |