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书目信息

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题名:
先进集成电路电磁兼容测试与建模
    
 
作者: 博耶 , 西卡尔 著 ;吴建飞 译
分册:  
出版信息: 北京   国防工业出版社  2022
页数: 16,314页
开本: 26cm
丛书名:
单 册:
中图分类: TN402
科图分类:
主题词: 集成电路--电磁兼容性--系统建模 , 集成电路--电磁兼容性--测试
电子资源:
ISBN: 978-7-118-12607-5
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    先进集成电路电磁兼容测试与建模/(法)亚历山大·博耶(Alexandre Boyer),(法)艾·西加(Etienne Sicard)著/吴建飞[等]译.-北京:国防工业出版社,2022
    16,314页:图,照片;26cm
    装备科技译著出版基金
    
    ISBN 978-7-118-12607-5(精装):CNY128.00
    本书内容涵盖了学习如何在发射、抗扰度和信号完整性问题方面对电路及其周围环境(PCB)进行建模的基本概念,并结合IC-EMC仿真软件的实际案例来阐述理论概念及原理。
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正题名:先进集成电路电磁兼容测试与建模     索取号:TN402/19         预约/预借

序号 登录号 条形码 馆藏地/架位号 状态 备注
1 1975970   219759704   样本书库/ [索取号:TN402/19] 在馆    
2 1975971   219759713   理科库/ [索取号:TN402/19] 在馆    
3 1975972   219759722   理科库/ [索取号:TN402/19] 在馆    
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