书目信息 |
| 题名： |
纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
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| 作者： | 戈埃尔 ， 查克拉巴蒂 主编 ；续海涛 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 机械工业出版社 2016 |
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| 页数： | 13,191页 | |
| 开本： | 24cm | |
| 丛书名： | 国际信息工程先进技术译丛 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN432 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 纳米材料--CMOS电路--缺陷检测 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 978-7-111-52184-6 | |
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| 330 | @a本书分时序敏感ATPG、超速、替代方案、SDD的测量标准4个部分，共十章，内容包括小延迟缺陷测试的基本原理、K最长路径、筛选小延迟缺陷的超速测试等。 | |
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| 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测/(美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel)，(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编/续海涛等译.-北京：机械工业出版社，2016 |
| 13,191页；24cm.-(国际信息工程先进技术译丛) |
| ISBN 978-7-111-52184-6：CNY59.90 |
| 本书分时序敏感ATPG、超速、替代方案、SDD的测量标准4个部分，共十章，内容包括小延迟缺陷测试的基本原理、K最长路径、筛选小延迟缺陷的超速测试等。 |
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| 相关链接 |
正题名：纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
索取号：TN432/7
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| 序号 | 登录号 | 条形码 | 馆藏地/架位号 | 状态 | 备注 |
| 1 | 1677680 | 216776807 | 样本书库/3111370405/ [索取号:TN432/7] | 在馆 | |
| 2 | 1677681 | 216776816 | 理科库/3111370405/ [索取号:TN432/7] | 在馆 | |
| 3 | 1677682 | 216776825 | 理科库/3111370405/ [索取号:TN432/7] | 在馆 |