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题名：	纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测查询光盘信息中...
作者：	戈埃尔，查克拉巴蒂主编；续海涛译
分册：
出版信息：	北京机械工业出版社 2016	正在获取封面...
页数：	13,191页
开本：	24cm
丛书名：	国际信息工程先进技术译丛
单册：
中图分类：	TN432
科图分类：
主题词：	纳米材料--CMOS电路--缺陷检测
电子资源：
ISBN：	978-7-111-52184-6

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330		@a本书分时序敏感ATPG、超速、替代方案、SDD的测量标准4个部分，共十章，内容包括小延迟缺陷测试的基本原理、K最长路径、筛选小延迟缺陷的超速测试等。
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纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测/(美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel)，(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编/续海涛等译.-北京：机械工业出版社，2016

13,191页；24cm.-(国际信息工程先进技术译丛)

ISBN 978-7-111-52184-6：CNY59.90

本书分时序敏感ATPG、超速、替代方案、SDD的测量标准4个部分，共十章，内容包括小延迟缺陷测试的基本原理、K最长路径、筛选小延迟缺陷的超速测试等。

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