文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN432/7 | 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 | (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel)，( | 机械工业出版社 | 2016 |
| 2 | O413-49/14 | 量子矩阵 | (以)格申·库里茨基(Gershon Kurzk),(以)戈 | 人民邮电出版社 | 2023 |
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| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
| 1 | TN432/7 | 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 | (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel)，( | 机械工业出版社 | 2016 |
| 2 | O413-49/14 | 量子矩阵 | (以)格申·库里茨基(Gershon Kurzk),(以)戈 | 人民邮电出版社 | 2023 |