文献检索列表 |
序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
1 | TN432/7 | 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 | (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel),( | 机械工业出版社 | 2016 |
2 | TN402/8 | 基于片上去耦电容的配电网络 | (以)Renatas Jakushokas[等]著;续海涛,胡子 | 机械工业出版社 | 2014 |
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序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 |
1 | TN432/7 | 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 | (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel),( | 机械工业出版社 | 2016 |
2 | TN402/8 | 基于片上去耦电容的配电网络 | (以)Renatas Jakushokas[等]著;续海涛,胡子 | 机械工业出版社 | 2014 |