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序号 索取号 正题名 责任者 出版者 出版日期
1 TN432/7   纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 (美)桑迪普 K. 戈埃尔(Sandeep K. Goel),(   机械工业出版社   2016  
2 TN402/8   基于片上去耦电容的配电网络 (以)Renatas Jakushokas[等]著;续海涛,胡子   机械工业出版社   2014  
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